如何用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀E5080B進(jìn)行TDR（時(shí)域反射）測(cè)量

時(shí)域反射計(jì)（TDR）測(cè)量是一種廣泛應(yīng)用于高速信號(hào)完整性分析的技術(shù)，可用于評(píng)估傳輸線(xiàn)的阻抗連續(xù)性、定位連接器或PCB走線(xiàn)中的不連續(xù)點(diǎn)。安捷倫（Keysight）E5080B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）具備高精度頻域測(cè)量能力，結(jié)合時(shí)域變換功能，可高效實(shí)現(xiàn)TDR分析。以下是使用E5080B進(jìn)行TDR測(cè)量的完整操作流程。

第一步：初始設(shè)置與校準(zhǔn) 開(kāi)機(jī)后，首先設(shè)置測(cè)量頻率范圍，根據(jù)被測(cè)器件（DUT）特性設(shè)定合適的起始與終止頻率。點(diǎn)擊“時(shí)域”按鈕進(jìn)入時(shí)域設(shè)置界面，再進(jìn)入“時(shí)域變換”對(duì)話(huà)框。選擇“低通階躍”變換模式，并勾選“時(shí)域變換”功能。為確保測(cè)量精度，需執(zhí)行全四端口校準(zhǔn)。根據(jù)所用校準(zhǔn)件類(lèi)型（如機(jī)械或電子校準(zhǔn)件）和DUT接口形式，選擇對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)方式與連接順序，嚴(yán)格按照校準(zhǔn)向?qū)瓿伤亩丝赟OLT（短路-開(kāi)路-負(fù)載-直通）校準(zhǔn)，以消除系統(tǒng)誤差。

第二步：建立差分測(cè)量軌跡 校準(zhǔn)完成后，點(diǎn)擊“新建軌跡”，創(chuàng)建用于差分信號(hào)分析的S參數(shù)軌跡，如Sdd11。進(jìn)入“平衡參數(shù)”設(shè)置頁(yè)面，點(diǎn)擊“改變”按鈕，配置平衡拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，選擇“平衡到平衡”模式。隨后根據(jù)DUT的實(shí)際連接方式，設(shè)置分析端口與VNA物理端口的映射關(guān)系（如端口1、2接差分正負(fù)端），確保信號(hào)路徑正確。

第三步：配置時(shí)域變換參數(shù) 選擇已建立的Sdd11軌跡，設(shè)置顯示格式為“阻抗”。進(jìn)入“分析→時(shí)域→時(shí)域變換”菜單，確認(rèn)選擇“低通階躍”并啟用變換功能。根據(jù)被測(cè)傳輸線(xiàn)的實(shí)際電氣長(zhǎng)度，合理設(shè)置時(shí)域變換的起始與終止時(shí)間，以覆蓋信號(hào)往返全程，避免截?cái)嘈?yīng)。調(diào)整時(shí)間窗口可提升時(shí)間分辨率，清晰呈現(xiàn)阻抗突變點(diǎn)。

第四步：觀(guān)察與保存結(jié)果 變換完成后，屏幕將顯示Sdd11對(duì)應(yīng)的TDR阻抗曲線(xiàn)，直觀(guān)反映沿傳輸線(xiàn)的阻抗變化。通過(guò)添加光標(biāo)，可精確定位阻抗異常點(diǎn)的位置與幅值，用于判斷是否存在開(kāi)路、短路或阻抗失配。測(cè)量完成后，可通過(guò)“文件→另存為”導(dǎo)出數(shù)據(jù)，支持保存為CSV、S2P等格式用于后續(xù)分析，也可將曲線(xiàn)圖像保存為JPG、PNG或BMP等圖片格式，便于報(bào)告撰寫(xiě)與存檔。

綜上所述，利用E5080B進(jìn)行TDR測(cè)量，關(guān)鍵在于精準(zhǔn)校準(zhǔn)、正確設(shè)置差分拓?fù)湟约皶r(shí)域參數(shù)優(yōu)化。熟練掌握該流程，可顯著提升高速互連設(shè)計(jì)的測(cè)試效率與可靠性，是研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試中的重要技術(shù)手段。